Přejít k obsahu


Sledování tepelného zpracování a tvářecích procesů pomocí RTG difrakční topografie

Citace: [] FIALA, J., MEDLÍN, R. Sledování tepelného zpracování a tvářecích procesů pomocí RTG difrakční topografie. In Defektoskopie 2003. Brno: Brno University of Technology, 2003. s. 41-48. ISBN: 80-214-2499-0
Druh: STAŤ VE SBORNÍKU
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Monitoring heat-treatment and forming processes by X-ray diffraction topography
Rok vydání: 2003
Místo konání: Brno
Název zdroje: Brno University of Technology
Autoři: Jaroslav Fiala , Rostislav Medlín
Abstrakt CZ: Rentgenová difrakční topografie dokazuje, že je výkonným nástrojem ke sledování změn vyvolaných tepelným zpracováním a tvářením ve struktuře polykrystalického materiálu. RTG difraktometrie je zhruba 3000-krát citlivější než světelný mikroskop, tak jako je délka záření používaného v RTG zhruba 3000-krát kratší než viditelné světlo. Je důležité, že kontrast pozorovaný v RTG je založen na difrakci, což umožňuje pozorovat ztrátu koherence dokonce i uvnitř krystalu, jež se jeví jako homogenní ve světelné mikroskopii. V tomto článku je toto ilustrováno řadou příkladů, ve kterých je pozorovaný efekt tepelného zpracování porovnán mezi RTG a světelným mikroskopem. Rozbití krystalu do strukturně koherentních domén, velmi dobře viditelný RTG topografií, značně ovlivňující dynamiku dislokací a, jako důsledek, také mechanické vlastnosti zkoumaného materiálu, není ve světelném mikroskopu pozorovatelné.
Abstrakt EN: X-ray diffraction topography proves to be an efficient technique to follow the changes in the structure of polycrystalline materials induced by heat-treatment and forming. X-ray diffractometry is about 3000-times more sensitive than light microscopy as the wavelength of x-rays used is about 3000-times shorter than the wavelength of light. It is important that the contrast observed on x-ray topographs is based on diffraction which allows to recognize the loss of coherency even inside of crystals that appear as homogeneous under the light microscope. In the present lecture, this is illustrated by a number of examples, in which the effect of heat-treatment on the appearance of micrographs and x-ray diffraction patterns is compared. The break down of crystals into structurally coherent domains, well recognized from diffraction patterns, substantially influences dislocation dynamics, and, as a consequence, also the mechanical properties of the material under consideration, cannot be seen in light microscope.
Klíčová slova

Zpět

Patička