Přejít k obsahu


RTG difrakční topografie polykrystalických materiálů

Citace: [] FIALA, J. RTG difrakční topografie polykrystalických materiálů. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology, 2002, roč. 9, č. 1, s. 14-15. ISSN: 1211-5894
Druh: ČLÁNEK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: X-ray diffraction topography of polycrystalline materials
Rok vydání: 2002
Autoři: Jaroslav Fiala
Abstrakt CZ: Popisuje se analysa mesokrystalické struktury materiálů pomocí rtg difrakční topografie.
Abstrakt EN: Analysis of mesocrystalline structure of materials using grain-by-grain diffraction of x-rays is described.
Klíčová slova

Zpět

Patička