Přejít k obsahu


Hodnocení vrypové zkoušky světelnou a řádkovací mikroskopií

Citace: [] SOSNOVÁ, M., KŘÍŽ, A. Hodnocení vrypové zkoušky světelnou a řádkovací mikroskopií. In Metal 2006. Ostrava: Tanger, 2006. s. 1-8. ISBN: 80-86840-18-2
Druh: STAŤ VE SBORNÍKU
Jazyk publikace: cze
Anglický název: EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING MICROSCOPY
Rok vydání: 2006
Místo konání: Ostrava
Název zdroje: Tanger
Autoři: Martina Sosnová , Antonín Kříž
Abstrakt CZ: Vrypová zkouška "Scratch test" je jednou ze základních a nejrozšířenějších zkoušek sledování adheze systému tenká vrstva - substrát. Hodnocení vrypové zkoušky a určení hodnot kritických zatížení Lc, při nichž dojde k porušení tenké vrstvy, lze zjišťovat několika způsoby: pomocí optického mikroskopu, popř. pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu. Kromě hodnot kritických zatížení se zkouška doplňuje rozborem mechanismů porušení systému vrstva - substrát, které se podílely na procesu porušování vrstvy. Elektronová mikroskopie nabízí mnohem více možností v hodnocení charakteru porušení. Pro přesné určení místa prvního odhalení substrátu a celkové posouzení charakteru vzniklých porušení je vhodné využití SEM s lokální mikroanalýzou k identifikaci chemického složení sledovaného místa.
Abstrakt EN: "Scratch test" is one of the basic nowadays most commonly method used to evaluate the adhesion of the coating – substrate interface. The load at which particular failure of the coating occurs and the coating detaches is called the critical load (Lc) expressed in Newton (N) and it is a measure of the adhesion. To determine the critical load is used optical and/or scanning electron microscopy, acoustic emission (AE) and frictional force measurement. In addition to the values of critical load, is the test completed with the analysis of failure mechanisms. Scanning electron microscopy (SEM) offers more possibilities in evaluation of the failure mechanisms. To determine exactly the first substrate exposure and completely decide the character of occurred failure it is suitable to use SEM with local microanalysis to identify chemical composition of monitored place.
Klíčová slova

Zpět

Patička