Přejít k obsahu


New concept of criteria in epitaxial pairs

Citace: [] MEDLÍN, R., FIALA, J. New concept of criteria in epitaxial pairs. Journal of Crystal Growth, 2005, roč. 275, s. 1643-1645. ISSN: 0022-0248
Druh: ČLÁNEK
Jazyk publikace: eng
Anglický název: New concept of criteria in epitaxial pairs
Rok vydání: 2005
Místo konání: Grenoble, France
Název zdroje: Elsevier
Autoři: Rostislav Medlín , Jaroslav Fiala
Abstrakt CZ: Statistická analýza Landolt-Bornsteinovy databáze epitaxiálních párů dokazuje, že strukturální uspořádání v rovině kolmé k rozhraní, pozorované pomocí RTG difrakce u epitaxiálních párů je mnohem silnější kritérium pro jejich strukturální návaznost než strukturální uspořádání v rovině rozhraní. Tento fakt je velmi zajímavý pro předpovídání síly epitaxiálního srůstu a pro diagnostiku jejich koherence.
Abstrakt EN: Statistical analysis of a large database of epitaxial pairs proves that the structural accordance in the direction normal to the interface observed from the x-ray diffractograms of the epitaxial pair is much more important for its structural coherency than the structural accordance in the plane of the interface. This fact is of great interest for the prediction of the strength of the epitaxial joints and for the diagnostics of their coherency representing thus a sound crystallographic foundation for interface engineering.
Klíčová slova

Zpět

Patička