Přejít k obsahu


XRD study of Zr-alloys structure using fast semiconductor and 2D wire detectors

Citace: [] ŘÍHA, J., ŠUTTA, P. XRD study of Zr-alloys structure using fast semiconductor and 2D wire detectors. In Vákuové technológie - nové trendy vo výskume a aplikáciách. Bratislava: Slovenská vákuová spoločnosť, 2007. s. 108-111. ISBN: 978-80-969435-3-1
Druh: STAŤ VE SBORNÍKU
Jazyk publikace: eng
Anglický název: XRD study of Zr-alloys structure using fast semiconductor and 2D wire detectors
Rok vydání: 2007
Místo konání: Bratislava
Název zdroje: Slovenská vákuová spoločnosť
Autoři: Jan Říha , Pavol Šutta
Abstrakt CZ: Příspěvek se zabývá rentgenovou difrakční analýzou reálné struktury zirkoniových slitin s pomocí dvou typů detektorů se specifickými vlastnostmi. Jsou zde uvedeny výsledky z obou detektorů a popsány jejich nejdůležitější výhody a nevýhody. Pro srovnání vlastností detektorů na různých zirkoniových slitinách byly použity polovodičový a plošný detektor. Jako experimentální materiál byly použity vzorky čtyř různých slitin zirkonia, používaných pro ochranné vrstvy jaderného paliva ve VVER reaktorech.
Abstrakt EN: Contribution deals with X-ray diffraction study of real structure of four zirconium alloys by using two detectors with specific properties. The paper compares results from both detectors and describes its most important advatages and disadvantages. In order to compare detectors properties for different Zr-alloys fast semiconductor detector and an area detector were used. As an experimental material were used samples of four different zirconium alloys used as a cladding material of fuel elements in VVER reactors.
Klíčová slova

Zpět

Patička