Přejít k obsahu


Application of Two-Dimensional Detectors in X-ray Diffraction Materials Structure Analysis

Citace: [] FIALA, J., KOLEGA, M. Application of Two-Dimensional Detectors in X-ray Diffraction Materials Structure Analysis. Particle and Particle Systems Characterization, 2005, roč. 22, č. 6, s. 397-400. ISSN: 0934-0866
Druh: ČLÁNEK
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Application of Two-Dimensional Detectors in X-ray Diffraction Materials Structure Analysis
Rok vydání: 2005
Místo konání: Weinheim
Název zdroje: Wiley
Autoři: Prof. RNDr. Jaroslav Fiala CSc. , Ing. Michal Kolega Ph.D.
Abstrakt CZ: Zkoumání azimutálního (laterálního) profilu nespojitých difrakčních linií, t.j. zjišťováním velikosti, počtu a tvaru soliterních reflexí jež je tvoří, můžeme často získat o struktuře materiálu užitečné informace, které jsou jinými analytickými technikami nedostupné. Tyto informace mohou být s výhodou využity k optimalisaci technologických postupů, jakož i při monitorování procesů, jimiž struktura materiálu během jeho exploatace degraduje.
Abstrakt EN: The examination of the azimuthal (lateral) diffraction line profile, i.e., the size, number and shape of individual diffraction spots of which discontinuous diffraction line consist, often reveals useful information on the material?s structure which cannot be obtain by the application of other analytical techniques. The information obtained can be advantageously used in the development and optimization of technological processes as well as for monitoring of processes which degrade the material?s structure during their use.
Klíčová slova

Zpět

Patička