Přejít k obsahu


Fokusace v RTG difrakční topografii polykrystalických materiálů

Citace: [] FIALA, J., KOLEGA, M., MEDLÍN, R. Fokusace v RTG difrakční topografii polykrystalických materiálů. Materials Structure in Chemistry, Physics, Biology and Technology, 2005, roč. 12, č. 2, s. 74-76. ISSN: 1211-5894
Druh: ČLÁNEK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Focusing in x-ray diffraction topography of polycrystalline materials
Rok vydání: 2005
Místo konání: Praha
Název zdroje: Krystalografická společnost
Autoři: Prof. RNDr. Jaroslav Fiala CSc. , Ing. Michal Kolega Ph.D. , Ing. Rostislav Medlín
Abstrakt CZ: Rtg difrakční topografie představuje zvláštní techniku analysy reální struktury (mesostruktury) polykrystalických materiálů. Účinnost této metody lze ještě zvýšit vhodnou defokusací.
Abstrakt EN: X-ray diffraction topography represents a special technique for analysis of the real structure (mesostructure) of polycrystalline materials. The efficiency of this method may be further increased by a suitable defocusation.
Klíčová slova

Zpět

Patička