Přejít k obsahu


Zařízení pro měření statických parametrů fototranzistorů

Citace: [] BLECHA, T., OTTO, M. Zařízení pro měření statických parametrů fototranzistorů. 2009.
Druh: PROTOTYP, FUNKČNÍ VZOREK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Equipment for static parameters measurement of phototransistor
Rok vydání: 2009
Název zdroje: Západočeská univerzita v Plzni
Autoři: Ing. Tomáš Blecha Ph.D. , Ing. Martin Otto
Abstrakt CZ: Zařízení umožnuje měřit statické parametry fototranzistorů na základě různé vlnové délky a intenzity světelného záření. Integrované analogové měřící přístroje přímo zobazují hodnoty proudů a napětí jednotlivých měřených fototranzistorů. Rozsahy měřících přístrojů je možné měnit volbou vhodných bočníků a předřadníků.
Abstrakt EN: The equipment makes it possible to measure static parameters of phototransistors based on different wavelengths and intensity of light. Integrated analog measurement devices show current and voltage values of particular measured phototransistors. The range of measurement devices is possible to change by suitable ballast and shunt resistor.
Klíčová slova

Zpět

Patička