Přejít k obsahu


Zařízení pro měření statických a dynamických parametrů optoelektronických součástek

Citace: [] BLECHA, T., OTTO, M. Zařízení pro měření statických a dynamických parametrů optoelektronických součástek. 2009.
Druh: PROTOTYP, FUNKČNÍ VZOREK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Equipment for static and dynamic parameters measurement of optoelectronics components
Rok vydání: 2009
Název zdroje: Západočeská univerzita v Plzni
Autoři: Ing. Tomáš Blecha Ph.D. , Ing. Martin Otto
Abstrakt CZ: Zařízení umožnuje měřit statické a dynamické parametry fototranzistorů, fotodiod, fotorezistorů a optronů. Měření fotodiod je možné provádět v pasivním i aktivním (hradlovém) režimu. Světelný paprsek, u kterého je možné nastavit intenzitu záření, je přiváděn na jednotlivé optoelektronické součástky pomocí vlnovodu. Součástí přípravku je i jednoduchý generátor obdélníkových impulzů pro měření dynamických parametrů optoelektronických součástek. Integrované analogové měřící přístroje přímo zobazují hodnoty proudů a napětí jednotlivých měřených fototranzistorů. Rozsahy měřících přístrojů je možné měnit volbou vhodných bočníků a předřadníků.
Abstrakt EN: The equipment makes it possible to measure static and dynamic parameters of phototransistors, photodiodes, photoresistor and photocouplers. Photodiode measurement is possible to do in passive and active mode.The light is distributed by waveguide on optoelectronics components and there is possible to set the intensity of light. This equipment includes simply signal generator of square pulse for dynamic parameters measurement. Integrated analog measurement devices show current and voltage values of particular measured phototransistors. The range of measurement devices is possible to change by suitable ballast and shunt resistor.
Klíčová slova

Zpět

Patička