Přejít k obsahu


Software pro měření VA - charakteristik OFET tranzistorů SBO-I

Citace: [] ČENGERY, J. Software pro měření VA - charakteristik OFET tranzistorů SBO-I. 2009.
Druh: SOFTWARE
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Software for measurement current-voltage characteristic OFET transistors SBO-I
Rok vydání: 2009
Název zdroje: ZČU v Plzni
Autoři: Ing. Jiří Čengery Ph.D.
Abstrakt CZ: Program je zejména určen pro měření voltampérových charakteristik OFET tranzistorů a elektrodových struktur s organickými materiály. Lze ho však použít i pro jiné aplikace.
Abstrakt EN: This software is intended for measurement current-voltage characteristic OFET transistors and electrode structures with organic material. This software can be use for another application
Klíčová slova

Zpět

Patička