Přejít k obsahu


Basic Single Event Effect Tester

Citace: [] KRAUS, V., BARTOVSKÝ, J., HOLÍK, M., GEORGIEV, V., KRUTINA, A. Basic Single Event Effect Tester. 2012.
Druh: PROTOTYP, FUNKČNÍ VZOREK
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Basic Single Event Effect Tester
Rok vydání: 2012
Název zdroje: Západočeská univerzita
Autoři: Ing. Václav Kraus , Ing. Jan Bartovský , Ing. Michael Holík , Doc. Dr. Ing. Vjačeslav Georgiev , Ing. Aleš Krutina ,
Abstrakt CZ: Zařízení slouží pro měření SEE v FPGA obvodu. Tester dovoluje ověření teoretických poznatků částicové fyziky a jejich vlivu na polovodičové součástky. Použité zdroje záření jsou neutrony a protony. Zařízení je složeno ze dvou částí - testovaného subjektu (DUT) a řadič experimentu. Pokud DUT generuje signál, že došlo k SEE, tak řadič uloží informace o SEE a čas. Tyto informace jsou odeslány do PC.
Abstrakt EN: Device which is dedicated to measurement of Single Event Effect (SEE) in a FPGA device. This device allows basic physical experiment with neutrons and protons for SEE. It consist of two main components - device under test (DUT) and experiment controller. Firmware is the main part of this device. When DUT generates error during experiment then it sends signal to experiment controller. Experiment controller saves time and data for SEE and it sends these information to PC.
Klíčová slova

Zpět

Patička