Přejít k obsahu


Určování vlastností tenkých vrstev pro fotovoltaiku pomocí optické spektroskopie a rentgenové difrakce

Citace: [] NETRVALOVÁ, M., ŠUTTA, P. Určování vlastností tenkých vrstev pro fotovoltaiku pomocí optické spektroskopie a rentgenové difrakce. In Modelování a měření v energetice - Moderní technologie pro přeměnu energie. Plzeň: Vědeckotechnická společnost Škoda, 2012. s. 49-52. ISBN: neuveden
Druh: STAŤ VE SBORNÍKU
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Determination of properties of thin films for photovoltaics by optical spectroscopy and X-ray diffraction
Rok vydání: 2012
Místo konání: Plzeň
Název zdroje: Vědeckotechnická společnost Škoda
Autoři: Ing. Marie Netrvalová , Doc. RNDr. Pavol Šutta Ph.D.
Abstrakt CZ: Vývoj čistých zdrojů energie, které mohou být alternativou k fosilním palivům, se stal jedním z dominantních úkolů moderní vědy a techniky v 21. století. Síla technologie na bázi křemíku je její jednoduchost v kombinaci s využitím materiálu hojně se vyskytujícím v zemské kůře. Jednopřechodový tenkovrstvý fotovoltaický článek na bázi křemíku se skládá z mnoha různých vrstev. V tomto příspěvku jsme se zaměřili na strukturní a optické vlastnosti oxidu zinečnatého, který se používá jako přední kontakt, a intrinsický amorfní a mikrokrystalický křemík, ve fotovoltaickém článku používaný jako aktivní vrstva.
Abstrakt EN: Development of pure source of energy is become one of dominant ask of modern science and technology in 21st century. Power of technology based on silicon is in simplicity and occurring Earth`s crust. Single-junction thin film solar cells based on silicon is consist of many different layers. In this paper we are focused on structural and optical properties of zinc oxide, which is using as front contact, and intrinsic amorphous and microcrystalline silicon, which is using in photovoltaic cells as active layer.
Klíčová slova

Zpět

Patička