Přejít k obsahu


Analysis of total hemispherical emissivity of samples from sample groups 01-03

Citace: MARTAN, J., HONNEROVÁ, P., HONNER, M., VESELÝ, Z. Analysis of total hemispherical emissivity of samples from sample groups 01-03. Frentech Aerospace s.r.o., 2013.
Druh: ZPRÁVA
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Analysis of total hemispherical emissivity of samples from sample groups 01-03
Rok vydání: 2013
Název zdroje: Frentech Aerospace s.r.o.
Autoři: Ing. Jiří Martan Ph.D. , Ing. Petra Honnerová Ph.D. , Doc. Ing. Milan Honner Ph.D. , Ing. Zdeněk Veselý Ph.D.
Abstrakt CZ: Popisuje se měření totální hemisférické emisivity vzorků z Frentech Aerospace s.r.o. provedené pomocí měření spektrální odrazivosti. Vzorky jsou telné vrstvy na substrátu z různou drsností a geometrií. Měření bylo provedeno dvěma metodami: (i) měření spekulární úhlové odrazivosti a (ii) měření normálové hemisférické odrazivosti. Všechny měření hodnoty totální hemisférické emisivity měření metodou difuzní odrazivosti jsou v rozsahu ?+??<0.025.
Abstrakt EN: In the present work there is described measurement of total hemispherical emissivity of samples from Frentech Aerospace s.r.o. done by spectral reflectivity measurement. The samples were thin films coated substrates with different roughness and geometry. The measurement was done by two variations of the method: (i) specular directional reflectivity measurement and (ii) diffuse normal-hemispherical reflectivity measurement. All the measured values of total hemispherical emissivity using the diffuse reflectivity method are in the range ?+??<0.025.
Klíčová slova

Zpět

Patička