Přejít k obsahu


Emissivity measurement method for low emissivity samples

Citace: MARTAN, J., VESELÝ, Z., HONNEROVÁ, P., HONNER, M. Emissivity measurement method for low emissivity samples. Frentech Aerospace s.r.o., 2013.
Druh: ZPRÁVA
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Emissivity measurement method for low emissivity samples
Rok vydání: 2013
Název zdroje: Frentech Aerospace s.r.o.
Autoři: Ing. Jiří Martan Ph.D. , Ing. Zdeněk Veselý Ph.D. , Ing. Petra Honnerová Ph.D. , Doc. Ing. Milan Honner Ph.D.
Abstrakt CZ: Popisuje se nová metoda měření totální hemisférické emisivity pomocí měření spektrální odrazivosti. Tato metoda umožňuje měření nízkoemisních vzorků s vysokou přesností. Popsány jsou měřicí zařízení, postup měření a výpočtu a nejistota měření. Jsou dvě varianty metody: (i) měření spekulární úhlové odrazivosti a (ii) měření normálové hemisférické odrazivosti. Nejistoty měření (koeficient pokrytí k=1) emisivity pro měřicí metody jsou: (i) ??=0.009 a (ii) ??=0.019 (drsné vzorky), ??=0.006 (téměř spekulární vzorky).
Abstrakt EN: In the present work there is described a new method of measurement of total hemispherical emissivity by spectral reflectivity measurement. This method enables measurement of low emissivity samples with high precision. The used equipment, measurement and calculation procedures and measurement uncertainty are described. There are two variations of the method: (i) specular directional reflectivity measurement and (ii) diffuse normal-hemispherical reflectivity measurement. The measurement uncertainties (coverage factor k=1) of the emissivity measurement methods are: (i) ??=0.009 and (ii) ??=0.019 (rough samples), ??=0.006 (almost specular samples).
Klíčová slova

Zpět

Patička