Přejít k obsahu


Funkční vzorek spektrometrického zařízení pro měření spektrální emisivity propustných materiálů za pokojových teplot

Citace:
HONNEROVÁ, P., MARTAN, J. Funkční vzorek spektrometrického zařízení pro měření spektrální emisivity propustných materiálů za pokojových teplot. 2014.
Druh: PROTOTYP, FUNKČNÍ VZOREK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Function sample of a spectrometric device for a spectral emissivity measuring of transparent material at room temperatures
Rok vydání: 2014
Název zdroje: Západočeská univerzita v Plzni
Autoři: Ing. Petra Honnerová Ph.D. , Ing. Jiří Martan Ph.D.
Abstrakt CZ: Popisuje se funkční vzorek měřicího systému pro automatizované měření spektrální odrazivosti a propustnosti, který umožňuje automatické vyhodnocení spektrální emisivity propustných materiálů. Funkční vzorek byl vyroben za podpory Motivačního systému Západočeské univerzity v Plzni, část POSTDOC s využitím přístrojového vybavení pořízeného z projektu CENTEM s registračním číslem CZ.1.05/2.1.00/03.0088. Měřicí systém sestává z FTIR spektrometru rozšířeného o integrační sféru, příslušenství pro měření propustnosti (nástavce, standard odrazivosti) a kalibrovaný standard odrazivosti. Toto uspořádání umožňuje automatizovaně měřit spektrální normálovou hemisférickou propustnost a odrazivost propustných materiálů pro úhel dopadu záření 12°. Z naměřených dat je možné použitím vytvořeného programu vyhodnotit spektrální normálovou emisivitu podle Kirchhoffova zákona.
Abstrakt EN: The function sample of a measurement system is described for automated measurement of spectral transmittance and reflectance. It enables to automatically evaluate the spectral emissivity of transparent materials. The function sample has been developed with the support of the Motivation System of the University of West Bohemia in Pilsen, part POSTDOC and by using instruments acquired in the project CENTEM No.CZ.1.05/2.1.00/03.0088. The measurement system consists of a FTIR spectrometer, an integrating sphere accessory for transmittance measurement (sample holder, reflectance standard) and a calibrated reflectance standard. The arrangement enables automatic measurement of spectral normal hemispherical transmittance and reflectance of transparent materials for the incident angle of radiation of 12°. Spectral normal emissivity is evaluated automatically according to the Kirchhoff law by using the developed program.
Klíčová slova

Zpět

Patička