Přejít k obsahu


Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method

Citace:
VESELÝ, Z., HONNEROVÁ, P., MARTAN, J., HONNER, M. Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method. Infrared Physics & Technology, 2015, roč. 71, č. červenec 2015, s. 217-222. ISSN: 1350-4495
Druh: ČLÁNEK
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method
Rok vydání: 2015
Autoři: Ing. Zdeněk Veselý Ph.D. , Ing. Petra Honnerová Ph.D. , Ing. Jiří Martan Ph.D. , Doc. Ing. Milan Honner Ph.D.
Abstrakt CZ: Představen je počítačový model pro rozložení teploty ve vzorku při měření spektrální normálové emisivity za vysoké teploty. Pro určení vlivu různých parametrů metody na teplotu vzorku se provádí citlivostní analýza s využitím počítačového modelování. Je analyzován vliv tloušťky měřeného a referenčního povlaku, emisivity měřené vrstvy a povrchové teploty vzorku při měření. Ukázáno je využití teplotního rozdílu mezi povrchem referenčního povlaku a rozhraním referenčního a měřeného povlaku na celkovou nejistotu emisivity měřeného povlaku.
Abstrakt EN: Computer model of temperature distribution in the sample in high temperature spectral emissivity measurement method is introduced. Sensitivity analysis is performed using computer model to determine the effect of various measurement method parameters on the sample temperatures. The effects of measured and reference coating thicknesses, measured coating emissivity and sample surface temperature are analyzed. The utilization of temperature difference between reference coating surface and the interface of reference and measured coatings for total emissivity uncertainty of measured coating is demonstrated.
Klíčová slova

Zpět

Patička