Přejít k obsahu


Metodika měření spektrální emisivity povrchů materiálů v oblasti vysokých teplot

Citace:
HONNEROVÁ, P. Metodika měření spektrální emisivity povrchů materiálů v oblasti vysokých teplot. 2015.
Druh: ZPRÁVA
Jazyk publikace: cze
Rok vydání: 2015
Autoři: Ing. Petra Honnerová Ph.D.
Abstrakt CZ: Zpráva shrnuje metodiku měření spektrální emisivity povrchů materiálů v oblasti vysokých teplot použitím FTIR spektrometru - metoda SNEHT. Metodika je zpracována zejména pro povlaky aplikované na kovový nepropustný substrát definovaných vlastností. Povlaky lze touto metodou měřit v teplotním rozsahu 300°C až 900°C. Součástí metodiky je vyhodnocení nejistoty emisivity a automatizace měření.
Klíčová slova

Zpět

Patička