Přejít k obsahu


Shrnutí metodiky měření spektrální emisivity povrchů materiálů v oblasti pokojových teplot

Citace:
HONNEROVÁ, P. Shrnutí metodiky měření spektrální emisivity povrchů materiálů v oblasti pokojových teplot. 2016.
Druh: ZPRÁVA
Jazyk publikace: cze
Rok vydání: 2016
Autoři: Ing. Petra Honnerová Ph.D.
Abstrakt CZ: Zpráva shrnuje metodiku měření spektrálních vlastností povrchů materiálů v oblasti pokojových teplot použitím FTIR spektrometru a integrační sféry. Nepřímá metoda měření je použita pro analýzy emisivity propustných/nepropustných materiálů a materiálů s náhodnou/pravidelnou strukturou povrchu. Výsledná metodika měření umožňuje analyzovat také emisivitu nepropustných povlaků deponovaných na objemový substrát a emisivitu materiálů, které mohou svým charakterem zašpinit vnitřní povrch integrační sféry. Součástí metodiky měření je vyhodnocení nejistoty emisivity a automatizace měření.
Klíčová slova

Zpět

Patička