Přejít k obsahu


Testovací stanice Single Event Effect (SEE)

Citace:
GEORGIEV, V., BROULÍM, P., BROULÍM, J., BURIAN, P., ZICH, J. Testovací stanice Single Event Effect (SEE). 2016.
Druh: PROTOTYP, FUNKČNÍ VZOREK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Test device SEE
Rok vydání: 2016
Název zdroje: Západočeská univerzita v Plzni
Autoři: Doc. Dr. Ing. Vjačeslav Georgiev , Ing. Pavel Broulím , Ing. Jan Broulím , Ing. Petr Burian Ph.D. , Ing. Jan Zich ,
Abstrakt CZ: Mechanické uspořádání Testovací stanice SEE: mechanické uspořádání pro uchycení různých DUT (DUT - Device Under Test) je patrné z obrázku v technické dokumentaci. Pixelové detektory jsou umístěny před a za DUT. Tyto detektory slouží pro přesné určení polohy, kudy prolétla nabitá částice. Toto uspořádání zajišťuje požadovanou přesnost a snadnou výměnu DUT.
Abstrakt EN: The device is dedicated for position sensitive detection of Single Event Effects in electronics. The principle of detection uses two pixel detectors 55 um size of pixel in matrix of 256 by 256 pixels located front of the Device Under Test (DUT) and back of the DUT. The coincidence of synchronous events indicates the position of the error.
Klíčová slova

Zpět

Patička