Přejít k obsahu


Způsob zjišťování totální emisivity povrchů materiálů

Citace:
HONNER, M., VESELÝ, Z. Způsob zjišťování totální emisivity povrchů materiálů. Praha, 2016.
Druh: PATENT, UŽITNÝ VZOR, PRŮMYSLOVÝ VZOR
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Method of measuring total emissivity of material surfaces
Rok vydání: 2016
Místo konání: Praha
Název zdroje: Úřad průmyslového vlastnictví
Autoři: Doc. Ing. Milan Honner Ph.D. , Ing. Zdeněk Veselý Ph.D.
Abstrakt CZ: Totální emisivita povrchů materiálů se zjišťuje tak, že vzorek (1) umístěný v držáku (4) vzorků má na přední straně nanesen analyzovaný povlak (2). Na části analyzovaného povlaku (2) je nanesen referenční povlak (3). Referenční povlak (3) je rovněž nanesen na zadní stranu vzorku (1). Ze zadní strany vzorku (1) je prováděn laserový ohřev. Z přední strany vzorku (1), z místa analyzovaného povlaku (2) je snímán radiační tepelný tok a z přední strany vzorku (1), z místa referenčního povlaku (3) je bezkontaktně snímána povrchová teplota. Záznam radiačního tepelného toku a povrchové teploty při chladnutí vzorků umožňuje stanovit totální emisivitu analyzovaného povrchu.
Abstrakt EN: Total emissivity of material surfaces is determined in such a manner that a sample (1) situated in a sample holder (4) has on its front side a deposition of a coating (2) to be analyzed. On a part of said coating (4) to be analyzed, there is applied a reference coating (3). The reference coating (3) is applied to the sample (1) rear side, as well. The sample (1) rear side is then subjected to laser heating. From the sample (1) front side, from the place of the coating (2) to be analyzed, there is measured a radiation heat flux and from the sample (1) front side, from the place of the reference coating (3), there is non-contac measurement of surface temperature. The radiation heat flux record as well as the record of the surface temperature during cooling down the samples make possible to determine the total emissivity of the surface being analyzed.
Klíčová slova

Zpět

Patička