Přejít k obsahu


Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films

Citace: [] MARTAN, J., BENEŠ, P., LANG, V. Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films. In Thermal Conductivity 29 - Thermal Expansion 17. Lancaster: DEStech Publications, 2008. s. 263-272. ISBN: 978-1-932078-72-5
Druh: STAŤ VE SBORNÍKU
Jazyk publikace: eng
Anglický název: Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films
Rok vydání: 2008
Místo konání: Lancaster
Název zdroje: DEStech Publications
Autoři: Jiří Martan , Petr Beneš , Vladislav Lang
Abstrakt CZ: Byl vyvinut měřící systém pro zjišťování tepelné vodivosti tenkých vrstev založený na nanosekundovém pulzním laseru a dvou rychlých infračervených detektorech. Systém umožňuje měření tepelné efuzivity tenkých vrstev a dále určení jejich tepelné vodivosti a objemové tepelné kapacity. Systém byl nejprve zhodnocen při použití titanového objemového vzorku a titanových tenkých vrstev. Nakonec byly zkoumány průmyslové otěruvzdorné tenké vrstvy.
Abstrakt EN: Measurement system for thin films thermal properties investigation based on nanosecond pulsed laser and two fast infrared detectors was developed. It can be used for measurement of thin film thermal effusivity and further for determination of its thermal conductivity and volumetric specific heat. The system was first evaluated on titanium bulk sample and titanium thin films. Finally, industrial wear resistant thin films were investigated.
Klíčová slova

Zpět

Patička