Přejít k obsahu


Zařízení pro měření statických charakteristik bipolárních tranzistorů

Citace: [] BLECHA, T., VANČURA, T. Zařízení pro měření statických charakteristik bipolárních tranzistorů. 2011.
Druh: PROTOTYP, FUNKČNÍ VZOREK
Jazyk publikace: cze
Anglický název: Equipment for static characteristics measurement of bipolar transistor
Rok vydání: 2011
Název zdroje: Západočeská univerzita v Plzni
Autoři: Ing. Tomáš Blecha Ph.D. , Bc. Tomáš Vančura
Abstrakt CZ: Zařízení umožňuje měřit jednotlivé statické charakteristiky PNP a NPN bipolárních tranzistorů - vstupní, převodní a výstupní charakteristiky.
Abstrakt EN: Equipment allows to measure particular static characteristics of PNP and NPN bipolar transistor - input, transfer and output characteristics.
Klíčová slova

Zpět

Patička